World Scientific Publishing, 2021. — 345 p. — ISBN: 9789811227042, 9811227047. This book deals with the subject of secondary energy spectroscopy in the scanning electron microscope (SEM). The SEM is a widely used research instrument for scientific and engineering research and its low energy scattered electrons, known as secondary electrons, are used mainly for the purpose of...
Монография. — Пер. с англ. C.А. Иванова. — М.: Техносфера, 2006. — 256 с. Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энергодисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе...
М.: Техносфера, 2005. — 144 с. Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ),...
Перевод с франц. Н.В. Васильченко, под ред. Л.Н. Курбатова. — М.: Мир, 1988. — 420 с. — ISBN 5-03-000915-9. В переводе книги французского автора рассматриваются применительно к задачам инфракрасной термографии (тепловидения) общие вопросы радиометрии, оптические материалы и системы, формирующие изображение, вопросы пространственной и спектральной фильтрации. Значительная часть...