Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Наноэлектроника

2023.10
Методические указания по выполнению лабораторных работ. — Москва: МИРЭА - Российский технологический университет, 2020. — 71 с. Методические указания содержат краткие теоретические сведения, методику проведения лабораторных работ и примеры расчетных заданий в рамках программы дисциплины «Физические основы микро - и наноэлектроники». Предназначено для студентов бакалавриата,...
  • №1
  • 1,31 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
2019.03
Учеб. пособие –Саратов, 2014. –35 с.: ил. Методы измерения комплексной диэлектрической проницаемости полярных и неполярных жидких диэлектриков, играющих роль нарушения периодичности в микрополосковом фотонном кристалле. Анализ современного состояния в области исследования электрофизических свойств жидких диэлектриков, теоретическое описание микрополосковых фотонных кристаллов,...
  • №2
  • 3,11 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
2018.12
М.: НИЯУ МИФИ, 2018 — 256 с. Лабораторный практикум состоит из базовых лабораторных работ в следующих областях физики и технологии наноструктурной электроники: методы исследования материалов и структур микро- и наноэлектроники, современные методы наноструктурирования поверхности материалов в технологии микро- и наноэлектроники, а также технологические процессы при изготовлении...
  • №3
  • 9,41 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
2018.02
Лабораторный практикум. — Иваново: ИГХТУ, 2015. — 60 с. Лабораторный практикум содержит описание программного пакета MatLAB, необходимое для моделирования работы нанотранзистора в предположении модели самосогласованного поля. Данная модель часто используется в настоящее время для описания работы базовых элементов наносхемотехнических устройств электроники. Дано описание 5...
  • №4
  • 956,75 КБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
2017.07
Лабораторный практикум. — Пособие. — Минск: БГУИР, 2016. — 63 с. Включает лабораторные работы по изучению кинетики и механизмов термического окисления кремния и ионного распыления твердых тел, физических процессов в выпрямляющих контактах металл–полупроводник и в плазме тлеющегоразряда, механизмов токопереноса и размерного эффекта в тонких металлических пленках. Предназначен для...
  • №5
  • 2,64 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
2017.04
Учебно-методическое пособие. — Нижний Новгород: Нижегородский госуниверситет, 2011. — 40 с. Технология кремний на сапфире (КНС) является основой для производства радиационно-стойких приборов. В пособии описаны основные особенности данных структур, а также представлены основные технологии их производства. Данное пособие предназначено для студентов старших курсов, специализирующихся...
  • №6
  • 709,49 КБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Учебно-методическое пособие. — Нижний Новгород: Нижегородский госуниверситет, 2011. — 45 с. В пособии описана оригинальная методика исследования дефектообразования в гетеронаноструктурах с квантовыми ямами (КЯ) и точками (КТ) типа In(Ga)As/GaAs, основанная на исследовании температурной зависимости фоточувствительности в области основного перехода в КЯ и КТ при низких температурах...
  • №7
  • 517,49 КБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
2017.03
Методические указания для студентов специальности «Микро- и наноэлектронные технологии и системы» заочной и дистанционной форм обучения. — Минск: БГУИР, 2006. — 24 с. В методических указаниях обобщены сведения об основных свойствах материалов микро- и наноэлектроники. Рабочая программа по данной дисциплине дополнена методическими указаниями к ней, а также к курсу МЭТ приводится...
  • №8
  • 795,74 КБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
2015.11
Лабораторный практикум. — Тамбов: ТГТУ, 2013. — 60 с. Микроанализ структур интегральных устройств. Синтез наноразмерных углеродных трубок для наноэлектроники. Молекулярно-лучевая эпитаксия: методики, оборудование, технология. Электронная микроскопия гетероструктур. Микролитография. Анализ топологии БИС методом оптической микроскопии. Диффузия в технологии микросхем. Контрольные...
  • №9
  • 1,32 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
2012.02
Лабораторный практикум. - Томск, ТУСУР, 2010. - 97 с. Приведены четыре лабораторные работы, в основу которых положены четыре наиболее распространенных и перспективных физических метода контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем – спектрометрическое оценивание толщины тонких пленок,...
  • №10
  • 2,45 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
???
Методические указания по самостоятельной работе. - Красноярск, ИПК СФУ, 2009. - 37 с. Настоящее издание является частью электронного учебно-методического комплекса по дисциплине «Актуальные проблемы современной электроники и наноэлектроники», включающего учебную программу дисциплины, курс лекций, лабораторный практикум, пособие по курсовой работе, контрольно-измерительные...
  • №11
  • 1,12 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Лабораторный практикум. - Красноярск, ИПК СФУ, 2009. - 120 с. Настоящее издание является частью электронного учебно-методического комплекса по дисциплине «Актуальные проблемы современной электроники и наноэлектроники», включающего учебную программу дисциплины, курс лекций, пособие по курсовой работе, методические указания по самостоятельной работе, контрольноизмерительные...
  • №12
  • 3,48 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
В этом разделе нет файлов.

Комментарии

В этом разделе нет комментариев.