Скобцов Ю.А., Сперанский Д.В., Скобцов В.Ю. Моделирование, тестирование и диагностика цифровых устройств. Курс лекций

3-е изд. — Интернет-Университет Информационных Технологий (Интуит); Ай Пи Эр Медиа, 2020. — 529 c. — ISNN: 978-5-4497-0551-8.Целью предлагаемого читателю курса лекций является изложение некоторых разделов теории (и ее приложений), которую в широком смысле можно назвать тестированием цифровой аппаратуры. Более точно, основное внимание будет уделено вопросам генерации тестов, моделированию работы цифровых устройств (ЦУ) и рациональному представлению диагностической информации. Здесь будет дано описание многих понятий, моделей и методов, используемых в упомянутой теории, которые с полным правом можно назвать ставшими классическими. Наряду с ними будут изложены сравнительно недавно возникшие понятия и методы, которые уже подтвердили свою полезность и эффективность.В курсе излагаются алгоритмы и методы логического моделирования исправных и неисправных цифровых устройств, востребованные при решении задач технической диагностики. Описываются методы построения проверяющих и диагностических тестов для комбинационных устройств и устройств с памятью, широко используемые на этапах их проектирования и эксплуатации. Представлены методы обработки результатов тестирования и диагностики устройств, а также сокращения диагностической информации с целью локализации неисправностей.Выходные данные.
Уровни и области моделирования.
Модели цифровых устройств.
Логическое моделирование.
Модели логических элементов.
Машинные модели логических схем и управление процессом моделирования.
Анализ состязаний.
Система многозначных алфавитов и функций.
Физические дефекты и неисправности.