Монография. — М.: Физматлит, 2010. — 410 с. — ISBN 978-5-9221-1200-0.
Монография содержит систематическое изложение принципов построения компактных моделей МОП-транзисторов для схемотехнического моделирования электронных цепей, в том числе СБИС. Рассмотрены проблемы моделирования, физические процессы в микро- и нанометровых МОП-транзисторах, методы формирования уравнений компактных моделей, особенности моделей BSIM, EKV, PSP, HiSIM и др., табличные модели, полунатурные модели.
Для разработчиков интегральных схем и электронной аппаратуры, разработчиков САПР СБИС, научных работников и аспирантов. Может быть полезна студентам физических специальностей университетов.
Предисловие.
Схемотехническое моделирование.Задачи схемотехнического моделирования.
SPICE-подобные программы моделирования.
Интерфейс к пользовательским моделям.
Аппаратные ускорители и многопроцессорные системы.
Выводы.
Физические процессы в МОП-транзисторах.Особенности субмикронных МОП-транзисторов.
Новые физические эффекты.
Основные принципы формирования уравнений компактных моделей.
Подход к моделированию на основе порогового напряжения.
Моделирование на основе поверхностного потенциала.
Моделирование на основе заряда инверсионного слоя.
Сглаживающие функции.
Модели подвижности.
Моделирование тепловых процессов.
Моделирование паразитных элементов.
Выводы.
Методологические вопросы моделирования.Требования к компактным моделям.
Точность модели.
Достоверность моделирования.
Причины низкой достоверности.
Тестирование, верификация и валидация.
Диапазон применимости.
Место компактных моделей в САПР СБИС.
Стандартизация моделей.
Автоматическая генерация моделей.
Выводы.
Четыре поколения компактных моделей.Типы компактных моделей.
Модели первых поколений.
Модели третьего поколения.
Модели глубоко субмикронных и нанометровых транзисторов.
Альтернативные подходы к моделированию.
Параметры компактных моделей.
Экстракция и идентификация параметров.
Выводы.
Статистическое моделирование.Математическое описание разброса параметров.
Параметры моделей для статистического моделирования.
Метод главных компонентов (РСА).
Геометрические зависимости разброса параметров.
Методы статистического моделирования ИС.
Выводы.
Принципы полунатурного моделирования.Основные идеи.
Моделирование паразитных элементов в полунатурной модели.
Регулировка параметров полунатурной модели.
Математические методы и алгоритмы.
Выводы.
Список литературы.
Предметный указатель.