Грин Г.И. Измерение параметров и испытание полупроводниковых приборов

Учебник для техн. училищ. — 3-е изд., перераб. и доп. — М.: Высшая школа, 1978. — 216 с.: ил. — (Профтехобразование. Полупроводники).В книге изложены основные сведения о физических явлениях в полупроводниковых приборах, их конструкции и применении. Описан технологический процесс производства полупроводниковых приборов.
Особое внимание уделено описанию схем измерительных устройств и технологических приемов при измерениях и испытаниях полупроводниковых приборов. Третье издание дополнено материалами о новых полупроводниковых приборах и измерении их параметров, а также о некоторых новых технологических операциях при производстве полупроводниковых приборов. Книга предназначена в качестве учебника для подготовки измерителей и испытателей полупроводниковых приборов в технических училищах.Введение
Измерения и измерительные приборы
Методы измерений
Погрешности измерений
Классификация электроизмерительных приборов по способу получения отсчета
Приборы для измерения электрических величин
Приборы для измерения температуры неэлектрическими методами
Приборы для измерения температуры электрическими методами
Полупроводниковые приборы и их назначение
Общие сведения
Полупроводниковые диоды
Транзисторы
Полевые транзисторы
Однопереходные транзисторы
Тиристоры
Фоточувствительные полупроводниковые приборы
Излучающие диоды
Оптоэлектронные приборы
Интегральные микросхемы
Конструкции полупроводниковых приборов
Технологический процесс производства полупроводниковых приборов
Требования к технологическому процессу
Методы получения р — n-переходов
Получение омических контактов
Прогрессивные технологические приемы изготовления полупроводниковых структур
Методы присоединения выводов
Технологическая схема полупроводникового производства
Изготовление пластин и кристаллов
Сборка диффузионно-сплавных высокочастотных транзисторов
Измерительные схемы и их монтаж
Основные понятия о Единой Системе Конструкторской Документации (ЕСКД)
Структурные схемы измерительных устройств
Источники питания
Усилители
Импульсные схемы измерительных устройств
Сравнивающие устройства
Понятие о логических элементах
Конструкции измерительных устройств и виды электромонтажа
Измерение электрических параметров полупроводниковых приборов
Назначение и способы измерений
Измерение выпрямительных диодов
Измерение высокочастотных и сверхвысокочастотных диодов
Измерение импульсных диодов
Измерение стабилитронов
Измерение тиристоров
Измерение биполярных транзисторов
Измерение полевых транзисторов
Измерение однопереходных транзисторов
Измерение варикапов и туннельных диодов
Измерение фоточувствительных полупроводниковых приборов
Измерение светодиодов
Измерение лазерных диодов
Измерение оптронов 183
Автоматизация измерений
Испытания полупроводниковых приборов
Воздействие окружающей среды на полупроводниковые приборы
Классификация испытаний
Испытания на соответствие требованиям к конструкции
Испытания на соответствие требованиям по устойчивости к климатическим воздействиям
Испытания на соответствие требованиям по устойчивости к механическим воздействиям
Испытания на соответствие требованиям к электрическим параметрам
Испытания на надежность и гарантийную наработку
Меры защиты полупроводниковых приборов от повреждений
Литература