Данилин Н.С., Бакланов О.Д., Загоровский Ю.И. Теория и методы неразрушающего инфракрасного контроля радиоэлектронных схем

М.: М-во обороны СССР, 1974. — 164 с.В пособим излагаются теоретические предпосылки неразрушающего контроля качества, состояния и надежности радиоэлектронных схем на основе анализа интенсивности инфракрасного излучения. Обсуждаются методы реализации бесконтактных дефектоскопов, оптимизации основных характеристик с учетом различной априорном информации относительно исследуемых объектов контроля.