Капранов Б.И., Короткова И.А. Спектральный анализ в неразрушающем контроле

Учебное пособие. — Томск: Томский политехнический университет, 2008. — 122 с.Основная цель пособия – дать базовые знания будущим специалистам в области неразрушающего контроля (НК) и технической диагностики (ТД) по теории основных методов эмиссионного спектрального анализа, ознакомить с технологией его проведения. Помещенные в пособии карты спектральных областей для большинства легирующих элементов будут полезны в практической деятельности.
Предназначено для студентов, преподавателей, сотрудников научно-исследовательских и заводских лабораторий, специалистов в сфере неразрушающего контроля и технической диагностики.Предисловие.
Введение.
Металлические материалы.
Физические основы спектрального анализа.
Источники света.
Оптика спектральных аппаратов.
Проведение контроля.
Список литературы.