Учебное пособие. — Москва : Университетская книга, 2016. — 197 с. : ил.
Аналитический обзор методов характеризации рельефа поверхности.
Анализ факторов, влияющих на формирование неопределенности измерений методами оптической интерферометрии
Методы исследования сверхразрешения оптической интерферометрии параметров рельефа поверхности
Исследование измерительно-калибровочного комплекса для измерений шероховатости поверхностей в нанометровом диапазоне
Совершенствование системы обеспечения единства измерений параметров шероховатости поверхности
Развитие нормативно-методической базы оптической интерферометрии параметров шероховатости поверхности